"Микрон" получил международный сертификат соответствия СМК для поставок на рынок автоэлектроники
Микрон первым из отечественных производителей микроэлектроники сертифицировал систему менеджмента качества (СМК) на соответствие требованиям международного стандарта IATF 16949:2016 в области "Проектирование и производство интегральных микросхем в форме кристаллов на пластинах" для автомобильной промышленности.
Сертификат соответствия IATF 16949:2016 выдан по результатам аудита United Registrar of Systems Ltd. (URS Certification, Великобритания), который Микрон успешно прошел в декабре 2018 (1 этап) и в декабре 2019 года (2 этап). Срок действия сертификата 3 года, с 2020 до 2023гг.
"Это важный шаг в развитии системы менеджмента качества Микрона и необходимое условие для работы на рынке автоэлектроники, - отметил директор по управлению качеством и развитию бизнес-процессов ПАО "Микрон" Денис Сергиенко. – Сертификат подтверждает, что производство микросхем, управляющих светодиодными приборами, которое Микрон начал в 2018 году, обеспечено высоким организационно-техническим уровнем процессов и современной системой менеджмента качества".
Соответствие требованиям IATF 16949:2016 необходимо для работы компании на мировом рынке автоэлектроники, который является в настоящее время одним из быстрорастущих сегментов электронной промышленности, с 2016 года темпы его роста в среднем составляют 13,4% в год.
Линейка Микрона для автопрома включает как стандартные массовые контроллеры, так и адаптированные под требования конкретных автопроизводителей. Первая партия микросхем, управляющих светодиодными приборами освещения автомобилей, произведена в 2018 году. Автомобильная электроника составляет около 40% стоимости автомобиля.
Система менеджмента качества внедрена на Микроне с 1997 года. На протяжении 20 лет компания поддерживает и совершенствует корпоративную политику соответствия международным стандартам: бизнес-процессы выстроены и сертифицированы в соответствии со стандартами ISO 9001:2015, ISO 14001:2015, ISO 50001:2011, IATF 16949.
