Компания Keysight Technologies представила передовые контрольно-измерительные решения для разработки и тестирования телекоммуникационного оборудования на выставке ECOC 2016
31.10.2016
Компания Keysight Technologies продемонстрировала контрольно-измерительные решения, предназначенные для высокоскоростных интерфейсов со скоростями передачи данных до 400 Гбит/с и более (область применения – от компонентов до информационных центров и магистральных каналов), на выставке ECOC 2016, прошедшей в Дюссельдорфе (Германия) 19-21 сентября.
На выставке демонстрировались разнообразные контрольно-измерительные решения, используемые для измерения параметров электрических и оптических трансиверов и для тестирования различных пассивных и активных компонентов.
Новый высокопроизводительный тестер коэффициента битовых ошибок M8040A, работающий на скорости до 64 Гбод и поддерживающий кодирование PAM-4 и NRZ, упрощает точное тестирование приёмников для устройств 400GbE. Это расширение серии M8000 для измерения коэффициента битовых ошибок упрощает тестирование приёмников, благодаря применению высокоинтегрированного генератора кодовых последовательностей и гарантирует получение достоверных результатов за счёт надёжного обнаружения ошибок PAM-4.
Новый стробоскопический осциллограф N1092D серии DCA-M для анализа оптических сигналов на недорогой платформе работает под управлением внешнего ПК с интерфейсом FLEX-DCA. Осциллограф выполняет базовый анализ сигналов и проводит испытания на соответствие стандартам для оптических передатчиков класса 25G. Этот стробоскопический осциллограф обладает низким уровнем шума и высокой чувствительностью до 5 мкВт (отношение С/Ш увеличено на 4 дБ), высокой производительностью и малым вносимым джиттером (<200 фс). Новый стробоскопический осциллограф DCA-M для оптических передатчиков создаст основу для тестирования оптических каналов 25/50/100/200 и 400 Гбит/с.
Компания Keysight представила новых членов семейства перестраиваемых источников лазерного излучения и контрольно-измерительные решения, использующие двунаправленное свипирование по длине волны при тестировании пассивных оптических компонентов.